SAP : Analyse chimique élémentaire

Retour au SAP
Technique (Mots clés/caractéristiques principales) Référence Appareil Responsable Technique
ICP-AES ou Torche à Plasma HORIBA – JOBIN YVON ULTIMA Expert M. de Solan Bethmale
MEB de paillasse : Réalisation de clichés par  et Analyse élémentaire de surface, détecteur EDX (spectrocopie de rayons X à dispersion d’énergie)  HITACHI
Mini-MEB TM3000 + EDX Oxford Instruments		 M. de Solan Bethmale
MEB-FEG : Réalisation de clichés et Analyse élémentaire de surface  détecteur EDX (spectrocopie de rayons X à dispersion d’énergie)  JEOL
JSM 7100F + EDX Oxford ASDD X-Max 50mm2		 M. de Solan Bethmale
Téléchargez les fiches techniques